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技術(shù)文章

TECHNICAL ARTICLES

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  • 20247-10
    應(yīng)用分享 | 鋰離子電池充放電下的原位XPS表征

    鋰離子電池(LIBs)和鋰金屬電池(LMB)都是多層的復(fù)雜體系,具有多種材料和界面,每個膜層和界面在性能和穩(wěn)定性方面都起著關(guān)鍵作用。調(diào)整這些材料的組成和形態(tài)就可以創(chuàng)建更穩(wěn)定、性能更高的器件,但這些材料非常難以處理和表征。鋰金屬極其容易發(fā)生化學(xué)反應(yīng),形成枝晶,枝晶會刺穿隔膜造成短路,鋰金屬負極在充放電過程中也會明顯收縮,破壞保護的固體電解質(zhì)(SEI)膜,降低使用壽命和效率。SEI膜形成的LiF層可以對金屬鋰表面起到鈍化效果,減少鋰枝晶的形成,以提高電池的耐用性,因此開發(fā)性能穩(wěn)定...

  • 20247-10
    布魯克全新臺式D6 PHASER應(yīng)用報告(五)—殘余應(yīng)力分析

    殘余應(yīng)力是材料在經(jīng)過焊接、鑄造、成型、機械加工或薄膜沉積等過程中殘留在材料中的內(nèi)應(yīng)力。殘余應(yīng)力分析對于了解這些內(nèi)應(yīng)力如何影響部件的性能和使用壽命非常重要。此外,殘余應(yīng)力分析還可以確定特定的材料特性和失效機制,從而用于構(gòu)件和零件的設(shè)計。傳統(tǒng)上,殘余應(yīng)力的測試只能在大型落地式衍射儀上進行,臺式衍射儀通常用于簡單的測試項目,比如物相分析。而D6PHASER是一款多功能臺式衍射儀,它不僅可以進行常規(guī)的粉末衍射分析,還可以進行薄膜測試(GID、XRR)、織構(gòu)和應(yīng)力測試、對分布函數(shù)測試(...

  • 20247-2
    應(yīng)用分享 | PHI TOF-SIMS助力鋰電的綠色可持續(xù)發(fā)展戰(zhàn)略

    PHITOF-SIMSAssistingTheGreenandSustainableDevelopmentStrategyofLithiumBattery隨著國內(nèi)新能源汽車銷量高速增長,動力電池裝機量也隨之迅速攀升。鑒于新能源汽車動力電池的平均使用壽命約為6~8年,動力電池在未來2-3年內(nèi)將迎來大規(guī)模退役潮,因此動力電池的回收已成為全國甚至全球相關(guān)產(chǎn)業(yè)可持續(xù)發(fā)展的關(guān)鍵。鋰的回收需要考慮諸多問題,如回收效率、回收成本、環(huán)境污染以及方法的可行性等。傳統(tǒng)的廢鋰回收方法主要有火法冶金...

  • 20247-2
    應(yīng)用分享 | 薄膜深度分析之角分辨XPS

    XPS作為一種表面靈敏的分析技術(shù),可以探測樣品表面10nm以內(nèi)的信息,而在材料分析中深度分析是獲取不同深度下組分和化學(xué)態(tài)信息的重要方法。在XPS深度分析中,有3個采樣深度值得關(guān)注:(1)0-10nm,這是基于常規(guī)AlKαX射線XPS的探測深度,對于超薄膜層結(jié)構(gòu)的深度分析可以通過變角度XPS實現(xiàn);(2)0-30nm,這是基于硬X射線XPS(HAXPES)的探測深度,可以通過切換X射線能量進行無損深度分析;(3)0-1000nm,需要采用離子束剝離的破壞性深度剖析。氬離子刻蝕是常...

  • 20247-2
    布魯克全新臺式D6 PHASER應(yīng)用報告系列(四)— 分子篩表征

    X射線衍射(XRD)是表征有序材料結(jié)構(gòu)的重要工具。高角度的相干散射可以反映原子的排列。在非常低的角度也可以觀察到相干信號,這些信號可以用來表征分子篩材料(比如ZSM-41或SBA-15)中圓柱形孔的周期性排列。案例分析低角度數(shù)據(jù)采集需要嚴格控制空氣散射和照在樣品上的光斑面積。通過適當(dāng)?shù)剡x擇一個固定尺寸的主光路發(fā)散狹縫和一個固定的防空氣散射屏,可控制上述的兩個條件。在D6PHASER上使用動態(tài)光束優(yōu)化(DBO)系統(tǒng),從而使光路和光斑的控制更加的方便和優(yōu)化可調(diào)。DBO包含可變發(fā)散...

  • 20246-27
    應(yīng)用分享 | 反光電子能譜IPES專輯之原理篇

    固體的電學(xué)、光學(xué)和化學(xué)性質(zhì)深受其占據(jù)態(tài)(occupiedstate)和非占據(jù)態(tài)(unoccupiedstate)電子結(jié)構(gòu)的共同影響。在半導(dǎo)體材料中,費米能級兩側(cè)的電子結(jié)構(gòu)對雜質(zhì)摻雜、能帶調(diào)控以及器件的研發(fā)與應(yīng)用至關(guān)重要,尤其是非占據(jù)態(tài)能級結(jié)構(gòu),它直接決定了電荷的轉(zhuǎn)移和輸運性能。雖然占據(jù)態(tài)的電子信息可通過光電子能譜,如XPS和UPS來解析,但由于非占據(jù)態(tài)沒有電子填充,傳統(tǒng)的光電效應(yīng)方法無法有效獲取其能帶信息。為了深入探索非占據(jù)態(tài)的信息,我們需要借助反光電子能譜(InverseP...

  • 20246-27
    應(yīng)用分享 | AES在月壤研究中的應(yīng)用

    面是指固體表面一個或數(shù)個原子層的區(qū)域,是與外界進行物質(zhì)交換和能量交換的通道,其性質(zhì)(如化學(xué)組成、原子排列、電子狀態(tài)等)與體相具有諸多不同,但是材料的表面行為往往決定了材料/器件的功用和性能。因此,表面分析對于新材料、新技術(shù)的研發(fā)至關(guān)重要。常用的表面分析技術(shù)主要有XPS、AES和TOF-SIMS等,其中,AES技術(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)對納米尺度特征的表面進行化學(xué)分析。俄歇電子能譜儀(AugerElectronSpectroscopy,AES)采用場發(fā)射電子源入射樣品的表面,激發(fā)出二次電子(...

  • 20246-27
    應(yīng)用分享 | 二次離子質(zhì)譜中的基體效應(yīng)

    在使用二次離子質(zhì)譜(SIMS)技術(shù)對樣品進行定量分析時,常遇到一系列棘手的問題:即便在濃度相同、測試條件一致的情況下,同一組分在不同的化學(xué)環(huán)境中二次離子產(chǎn)額可能跨越幾個數(shù)量級;此外,即便同一組樣品,使用相同設(shè)備和實驗條件、在不同時間段內(nèi)測到的二次離子信號強度也可能會有所差異。在SIMS分析中,常將實驗條件和樣品化學(xué)性質(zhì)差異等因素導(dǎo)致二次離子產(chǎn)額發(fā)生變化的現(xiàn)象統(tǒng)稱為基體效應(yīng)(matrixeffect)。在這期文章,我們將介紹SIMS分析中的基體效應(yīng),并分析基體效應(yīng)對SIMS測試...

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