布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以進行雙微焦斑單晶X射線衍射儀檢測。

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更新時間：2024-09-12

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三維X射線顯微鏡（XRM）

D6 Phaser SKYSCAN 2214 CMOS版 D8

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XRD應用分享 | 微焦斑高分辨XRD在電子器件領域的應用——以PZT電容器為例

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雙微焦斑單晶X射線衍射儀檢測

項目	細則	收費	說明
室溫測試	整套數(shù)據(jù)3h以內(nèi)；一般要求警惕尺寸大于50μm；整套數(shù)據(jù) 3h 以上，另需額外收費 150 元/時	/	1.長時間數(shù)據(jù)手機（大于5h）、復雜樣品等特殊測試，價格需面議
結構解析	解析結構；孿晶、復雜結構、不對稱單元內(nèi)非氫原子個數(shù)大于 100 等價格面議	/
低溫耗材	低溫測試時使用液氮	/
晶胞參數(shù)確定	室溫測定	/
晶向確定	室溫測定	/
粉末衍射	室溫測定單一譜圖，每樣每次長掃描 15min，延長時間按 50 元/15min（校外按 100 元/15min）計，不足 15min 按 15min 計	/
廣角散射	每樣每次長掃描 15min，延長時間按 50 元 /15min（校外按 100 元 /15min）計，不足 15min 按 15min 計	/

雙微焦斑單晶X射線衍射儀檢測

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！
高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個衍射峰（注意不是一個衍射峰）的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司向大家提供保證！
*的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍，不僅答復提高設備的使用效率，而且大幅提高了設備的探測靈敏度。

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